霍梅爾T8000SC粗糙輪廓度綜合測量儀配置了分辨率*的探測系統(tǒng)，同時測定粗糙度和輪廓。幾何參數(shù)以及粗糙度特征數(shù)據(jù)在一個流程中的評價。此測量系統(tǒng)性價比優(yōu)秀，具備的測量功能和能力可以和復(fù)雜的實驗室測量系統(tǒng)媲美。
| 技術(shù)特點 | 主要特點 |
| ?分辨率出色，6mm測量范圍的分辨率是6nm | ?粗糙度測量和輪廓共用一個探測系統(tǒng) |
| ?僅在一個測量范圍內(nèi)便具備完整的分辨率 | ?測量斜面和曲面的粗糙度 |
| ?測量力可調(diào) | ?由于測量范圍大，所以測量系統(tǒng)不再需要相對工件表面定位 |
| ?測頭電動抬起/下降，所以測量流程自動 | ?磁性測頭臂支架，測頭臂更換迅速可靠 |
| ?模塊化結(jié)構(gòu)，可拓展 | ?用于評價粗糙度和輪廓特征的軟件功能廣泛 |
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配置了wavecontour™surfscan 探測系統(tǒng)的粗糙度輪廓綜合測量儀正在測量滾珠絲桿。 |
| 選項 | 供貨范圍 |
?通過電動傾斜單元和CNC軟件實現(xiàn)完整的CNC功能 ?用于特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂 ?經(jīng)過認(rèn)證的qs-STAT接口（AQDEF）。 ?輪廓標(biāo)準(zhǔn)塊KN8 ?wavecontrol™操作面板 ?儀器臺GTR
| ?帶19"TFT顯示屏的評價電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價軟件 ?具有自動保存功能的PDF打印機 ?帶自動探測功能的電動測量立柱wavelift™400 ?帶增量值光柵尺的進(jìn)給裝置waveline™120advanced ?進(jìn)給裝置的傾斜和緊固單元，回轉(zhuǎn)范圍±45°，精回轉(zhuǎn)范圍±5° ?帶10mm T槽的硬巖石板 ?wavecontour™surfscan測頭，包含金剛石探測頭和紅寶石探頭的兩個測頭臂 ?粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊RNDH2 ?用于緊固工件的測量臺MT1 XYO ?校準(zhǔn)用附件一套
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| 型號 | T8000SC digital |
| 測量范圍 | R+C：6mm |
| zui小分辨率 | R+C：6nm |
| 水平測量范圍/水平分辨率 | 120mm/0.1μm |
| 測量立柱行程 | 400mm |
| 硬巖石板 | 780x500mm |
| 可拓展配置1000X500mm底座或800mm測量立柱 |
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